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銅箔表面肌理 (Surface Texture)粗糙度參...

多層印制電路板（PCB）壓合工藝（Multi-layer Lamination）品質，直接受銅箔表面肌理（Surface Texture）狀態影響。其中，銅箔粗糙...

銅箔表面肌理 (Surface Texture)粗糙度參數失衡，白光干涉儀優化多層板壓合 (Multi-layer Lamination) 工藝

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白光干涉儀大視場光學設計難度高于單純精度提升，屬行業共性難題

白光干涉儀（White Light Interferometer, WLI）小視場下實現亞納米級垂直測量精度，現有干涉光路與算法已經較為成熟。通過優化信號解調、降...

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USI白光掃描：透明金屬疊層界面模糊與微納細節丟失成因及優化...

一、USI算法固有技術缺陷USI通用掃描干涉算法（Universal Scanning Interferometry, USI）容錯性高、通用性廣，但存在固有技術...

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白光干涉儀微納測量不應唯精度論，大視場全域表征更具實際意義

白光干涉儀（White Light Interferometer, WLI）微納形貌檢測領域中，設備選型常片面聚焦小視場下的極限垂直精度指標。小視場模式雖可獲得亞...

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