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              新啟航半導體有限公司


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              09
              2026
              -
              05
              ISO 25178 面粗糙度標準詳解,白光干涉儀檢測方案
              一、ISO 25178面粗糙度核心標準核心詳解ISO 25178是國際通用的三維面粗糙度檢測專屬核心標準,區別于傳統二維輪廓粗糙度規范,聚焦工件表面全域三維形貌的...
              ISO 25178 面粗糙度標準詳解,白光干涉儀檢測方案
              09
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              -
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              BGA 共面度影響熱疲勞、抗振動可靠性,白光干涉儀測量方案
              引言隨著高密度微電子封裝技術快速迭代,BGA球柵陣列封裝已廣泛應用于高端通訊、工業控制及車載電子等核心領域。BGA焊點作為芯片與PCB基板互連的關鍵載體,其結構穩...
              BGA 共面度影響熱疲勞、抗振動可靠性,白光干涉儀測量方案
              08
              2026
              -
              05
              投影光斑不均、暗斑與畫面噪點,白光干涉面形測量
              引言微型投影、車載顯示與精密成像模組工作過程中,投影光斑分布不均、局部暗斑頻發、畫面成像噪點過多,是影響視覺呈現效果與光學產品良率的核心共性問題。此類成像故障大多...
              投影光斑不均、暗斑與畫面噪點,白光干涉面形測量
              08
              2026
              -
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              BGA 共面度直接決定組裝良率,白光干涉儀測量方案
              引言BGA球柵陣列封裝作為高端芯片主流封裝形式,廣泛應用于消費電子、工控主板及車載算力芯片等核心領域,其焊球陣列共面度是芯片貼片組裝制程的關鍵核心質控指標。BGA...
              BGA 共面度直接決定組裝良率,白光干涉儀測量方案
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