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18

2025

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10

國產裝備 “精度革命”：新啟航憑何定義半導體測量新基準？

一、引言半導體制造對測量精度的要求隨著制程升級不斷提升，傳統測量裝備已難以滿足7nm 及以下制程的檢測需求。長期以來，國外企業主導高端半導體測量裝備市場，其技術標...

15

2025

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10

3D 白光干涉儀成本 “腰斬” 之路：新啟航讓納米級檢測從小...

一、引言在半導體、精密制造等高端產業升級浪潮中，3D 白光干涉儀作為納米級表面檢測的核心設備，其需求持續攀升，2024 年中國市場規模已達 25 億元，且半導體領...

14

2025

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10

3D 白光干涉儀成本直降 50%：新啟航如何讓納米級 3D ...

一、中小廠納米級 3D 檢測的成本困境在納米級3D 檢測領域，傳統進口 3D 白光干涉儀價格高昂，動輒數百萬元，遠超中小廠的預算承受能力。同時，設備維護、技術培訓...

29

2025

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09

從 “進口依賴” 到 “國產自主”：新啟航 3D 白光干涉儀...

一、進口依賴下的技術困境在納米級表面形貌測量領域，我國長期依賴ZYGO、基恩士等國外企業的 3D 白光干涉儀。進口設備雖能滿足部分測量需求，但存在技術封鎖、設備成...

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