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          新啟航半導(dǎo)體有限公司


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          大視野3D白光干涉儀解決激光共聚焦拼接波紋抖動難題(Larg...
          在半導(dǎo)體、精密制造領(lǐng)域,工件直線度與微觀形貌的精準(zhǔn)測量是質(zhì)量管控的核心環(huán)節(jié)。激光共聚焦顯微鏡(Laser Confocal Microscope, LCM)拼接檢...
          大視野3D白光干涉儀解決激光共聚焦拼接波紋抖動難題(Large Field 3D White Light Interferometer Solve LCM Splicing Ripple Jitter Problem)
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          多層陶瓷電容器(Multi-layer Ceramic Capacitor, MLCC)端電極銀漿(Silver Paste)厚度及均勻性,是管控器件核心電氣性能...
          精準(zhǔn)把控 MLCC 核心電氣性能(Electrical Performance),優(yōu)選光學(xué) 3D 輪廓儀完成銀漿厚度檢測
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          微透鏡微結(jié)構(gòu) (Microstructure)成型缺陷,利用...
          摘要微透鏡微結(jié)構(gòu)(Microlens Microstructure)是CMOS圖像傳感器、光通信耦合器件的核心核心光學(xué)結(jié)構(gòu),量產(chǎn)過程涵蓋光刻、熱回流、注塑成型全工...
          微透鏡微結(jié)構(gòu) (Microstructure)成型缺陷,利用白光干涉儀統(tǒng)籌解決全流程制程異常 (Process Abnormity)
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          多層陶瓷電容器(Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC)端電極銀漿(Silver Paste)涂布厚度是決定器件焊接強(qiáng)度、電氣穩(wěn)定...
          實(shí)現(xiàn)工業(yè)微米級精密檢測(Micron-level Precision Detection),采用光學(xué) 3D 輪廓儀測量 MLCC 銀漿厚度
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