• 公司新聞
• 行業動態
• 企業黨建

11

2026

-

05

白光干涉測量在強腐蝕介質閥門平面度檢測中的應用

摘要強腐蝕介質閥門是化工、冶金等領域的核心控制部件，其密封面長期接觸酸堿、鹽霧等腐蝕性介質，平面度精度直接決定密封可靠性，平面度超差易引發介質泄漏、設備故障。傳統...

11

2026

-

05

機械硬盤盤面跳動、翹曲，平面度測量方法與方案

引言機械硬盤的正常運行離不開盤面的平整性，盤面跳動、翹曲是常見的質量隱患，會導致磁頭飛行高度異常、數據讀寫偏差，嚴重時引發磁頭擦盤、硬盤報廢，而平面度不達標是造成...

11

2026

-

05

CMOS芯片共面度不良，白光干涉解決對焦偏移、景深不足問題

引言CMOS芯片作為半導體器件的核心組成部分，共面度精度直接決定封裝可靠性與信號傳輸穩定性，共面度不良會導致芯片與基板貼合不嚴、引腳接觸不良，進而引發電路故障。當...

11

2026

-

05

鏡筒定位面平面度不良引發鏡片畸變的白光干涉測量

摘要鏡筒定位面平面度不良是誘發光學鏡片畸變的主要誘因，鏡片畸變會嚴重破壞光學系統成像精度。白光干涉測量技術具備非接觸、納米級精度優勢，可精準表征定位面平面度缺陷與...

• 共102頁
• 首頁
• 上一頁
• ...
• 75
• 76
• 77
• 78
• 79
• 80
• 81
• 82
• 83
• 84
• ...
• 下一頁
• 尾頁